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集成電路廣泛使用于電腦、家電、數(shù)碼、工業(yè)、通信、軍事等領(lǐng)域。集成電路檢測根據(jù)工藝所處的環(huán)節(jié)可以分為設(shè)計驗證、前道量檢測和后道檢測。集成電路芯片的生產(chǎn)主要分為 IC設(shè)計、 IC 前道制造和 IC 后道封裝測試三大環(huán)節(jié)，把完成的集成電路進行結(jié)構(gòu)及功能的確認，以保證元件或IC在到達系統(tǒng)時的完整與正常，這一站我們稱之為測試。

集成電路的制程永遠無法達到100%良率，故在讓元件上系統(tǒng)前，必須要先進行測試，以確定元件功能的正常與完整，以降低成本的損失。影響代工廠商的成敗依賴于產(chǎn)品的良率，良率不達標會顯著影響廠商的成本與收益。針對于半導(dǎo)體測試設(shè)備中起到關(guān)鍵作用的小型化長壽命繼電器，以下做簡單介紹：

歐姆龍MOS FET繼電器以豐富的產(chǎn)品種類，多達150種豐富的產(chǎn)品系列、可靠的品質(zhì)，支持各種技術(shù)及設(shè)備的開發(fā)。